闪存/内存将迎来技术革命 惠普新存储技术取得进展

  • 来源: CnBeta 作者: 陈晨   2011-05-17/08:15
  • 惠普的科学家已经在下一代存储技术,即“记忆电阻”方面取得小的突破。记忆电阻未来将可以取代当前普遍使用的闪存和DRAM技术。在发表于《纳米技术》杂志的一篇论文中,惠普的科学家报告称,他们已经了解记忆电阻在加电操作时的基本化学和结构变化。此前,尽管研究人员已经在实验室中开发出了记忆电阻样品,但科学家对于记忆电阻工作时的内部结构变化并不是完全清楚。

    惠普高级研究员斯坦·威廉姆斯(Stan Williams)表示,由于惠普正计划将记忆电阻技术商用,因此这一发现将帮助惠普更好地改善记忆电阻的性能。他表示:“这一发现增强了我们的信心,并使我们可以大幅改善这一技术。”

    记忆电阻技术是1971年加州大学伯克利分校的一名教授提出的。在此之前,科学家只知道3中基本的电路单元,即电阻、电容和电感。几十年后,惠普的科学家证明,记忆电阻是存在的,而电阻值可以在2个或多个值之间变化,这使得记忆电阻能够表示出计算机中的0和1。

    威廉姆斯预计,惠普的记忆电阻技术将于2013年中期商用,不过惠普不会对此做出官方承诺。惠普目前已经在实验室中制成了样品,存储密度达到每平方厘米12GB。这一样品采用15纳米工艺,并采用了多层设计。


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